100次浏览 发布时间：2025-01-15 21:17:34
测量双向可控硅（SCR）的方法如下：
使用万用表置于R×1k档，测量T2-T1和T2-G之间的正反向电阻。如果电阻接近∞，说明这两部分是好的。
使用万用表置于R×10档，测量T1-G之间的正反向电阻。如果电阻在几十欧姆，说明这部分是好的。
如果T2-T1或T2-G之间的正反向电阻较小或等于零，而T1-G之间的正反向电阻很小或接近于零，则说明双向可控硅性能变坏或击穿损坏。
使用万用表置于R×10档，先给T2加正向电压，然后短接G与T1（或T2），观察万用表指针的偏转情况。如果指针发生较大偏转并停留在固定位置，说明双向可控硅的一部分是好的。
改接黑表笔接T1，红表笔接T2，重复上述步骤，如果结果相同，说明双向可控硅的另一部分也是好的。测试到这一步说明双向可控硅在整个两个方向（在不同极性的触发电压下）均能触发导通。
将示波器的正极接入G端，负极接入A端，同时接入一个电阻，然后给G端施加一个正脉冲，观察示波器上的波形。如果波形不正常，则可能是双向可控硅损坏。
测试双向可控硅的正反向触发特性、电流特性等，这些测试需要使用专门的测试仪。
触发电流是指使双向可控硅从关断状态转变为导通状态所需的最小控制极电流。可以通过连接一个适当的电路来测量触发电流。
保持电流是指在正常导通状态下，通过双向可控硅的控制极所需的最小电流。同样可以通过连接适当的电路来测量。
阻断电压是指双向可控硅在关断状态下能够承受的最大电压。可以通过施加逐渐增加的电压来测试阻断电压。
响应时间是指双向可控硅从关断状态切换到导通状态所需的时间。可以通过施加触发脉冲信号，并使用示波器观察SCR导通的时间延迟。
通过上述方法，可以全面检测双向可控硅的好坏，确保其性能正常。建议在实际应用中，根据具体情况选择合适的测试方法，并在必要时使用专业测试仪器。